Informatik: Festschrift zum 60. Geburtstag von Günter Hotz by Ferri Abolhassan, Reinhard Drefenstedt, Jörg Keller,

By Ferri Abolhassan, Reinhard Drefenstedt, Jörg Keller, Wolfgang J. Paul (auth.), Prof. Dr. rer. nat. Johannes Buchmann, Prof. Dr. rer. nat. Harald Ganzinger, Prof. Dr. rer. nat. Wolfgang J. Paul (eds.)

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The Stuck-at Fault Model (SAFM) A fault in the SAFM ([6]) causes exactly one input or output pin of a node in C to have a fixed constant value (0 or 1) independently of the values applied to the PI's of the circuit. A stuck-at fault with fault location v therefore is a tuple (v[i], f) or ([i]v, f). v[i] ([i]v) denotes the i-th input (output) pin of v, f E {O, I} is the fixed constant value. An input t to C is a test for a stuck-at fault f, iff the output values of C on applying t in the presence of f are different from the output values of C in the fault free case.

Meinel. Modified Branching Programs and Their Computational Power. volume 970 of LNCS, Springer Verlag, 1989. Synthesis for Testability: Binary Decision Diagrams 39 [20] B. Milne. Testability, 1985 technology forecast. Electronic Design, 10:143-166, 1985. H. Schulz, F. Fink, and K. Fuchs. Parallel pattern fault simulation of path delay faults. In Proc. of the 26th Design Automation Conference, June 1989. L. Smith. A model for delay faults based upon paths. In Proc. of IEEE Int. Test Conference, pages 342-349, September 1985.

Of the 26th Design Automation Conference, June 1989. L. Smith. A model for delay faults based upon paths. In Proc. of IEEE Int. Test Conference, pages 342-349, September 1985. L. Wadsack. Fault modeling and logic simulation of CMOS and MOS integrated circuits. The Bell System Technical Journal, 57, 1978. W. Williams, W. Daehn, M. W. Starke. Comparison of aliasing errors for primitive and non-primitive polynomials. In Proc. IEEE Int. Test Conference, pages 282-288, 1986. [25] I. Wegener. The Complexity of Boolean functions.

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